泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic3+

泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic3+

泰勒霍普森粗糙度儀技術(shù)指標(biāo)：

泰勒霍普森粗糙度儀測(cè)量范圍±150μm分辨率0.01μm

泰勒霍普森粗糙度儀測(cè)量行程（*大值）25.4mm測(cè)量行程(*小值)0.25mm

泰勒霍普森粗糙度儀傳感器類(lèi)型可選換測(cè)量速度1mm/S

測(cè)針112/1502標(biāo)準(zhǔn)測(cè)針

測(cè)尖半徑5μm

112/1053替換標(biāo)準(zhǔn)測(cè)針

測(cè)尖半徑10μm

取樣長(zhǎng)度0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm參數(shù)精度2%讀數(shù)精度+LSDμm

測(cè)量參數(shù)Ra, Rq, Rz, Ry, Sm, Rt,主機(jī)電源電池或接線電源

選用參數(shù)Pc(用于代替Rq)WINDOWS界面圖形分析Waviness+Roughness

Tp%(可用于代替Rq)曲線分析圖

數(shù)據(jù)處理器參數(shù)Ra,Rv,Rq,Rp,Ry,Rz,RzJISIr,

Sm,RsK,Rku,S,Pc,HSC,Rk,

Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,

Rpk,Rvk,R,Rmax,Ar,Pt,Kr,

tp5%,Htp,Vo

微機(jī)處理參數(shù)粗糙度參數(shù)

Ra,Rq,Rt,Rp,Rv,Rku,Rsm,RzRTp,RHTp,……R3z.

波紋度參數(shù)

Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,Wku,Wsk,Wsm,……W3z

示濾波參數(shù)

Pa,Pq,Pv,Pt,…Ppc

RK參數(shù)

Rk,RpK,Rvk,……A1,Rvk

R+W參數(shù)

R,Ar,Pt…HTrc

主機(jī)尺寸130*80*65mm主機(jī)重量450g

數(shù)據(jù)處理機(jī)185*140*50mm

高精度涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、粗糙度、表面輪廓儀、圓度儀、圓柱度的儀器,淬火硬化層深度無(wú)損測(cè)量?jī)x,組件清潔度測(cè)試系統(tǒng)、關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo)測(cè)量針探針,工業(yè)電子內(nèi)窺鏡,平面度測(cè)量?jī)x、光譜儀、高度計(jì)、通用長(zhǎng)度測(cè)量機(jī),齒輪嚙合儀,齒輪測(cè)量中心、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、硬度計(jì)、滲碳層厚度計(jì)、滲氮層深度無(wú)損檢測(cè)儀、紅外熱成像儀、紅外溫度計(jì)、投影儀、視頻測(cè)量?jī)x、材料萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)、莫尼粘度計(jì)、振動(dòng)計(jì)等精密測(cè)量?jī)x器。