TAYLOR粗糙度儀Surtronic DUO

TAYLOR粗糙度儀Surtronic DUO

泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO可以測量的參數：

提供參數：ISO 4287粗糙度*

Rt – 峰谷值

Rp –最大波峰值

Rv – 最大波谷值

Rz – 平均峰谷值

Ra – 算術平均值

其它參數，包括：Rsk, Rku,Rq,Rz1max

* 包括主要參數

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度儀是英國泰勒公司 新型粗糙度儀,SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測 Ra , Rz 兩種參數。 Surtronic DUO粗糙度儀具有紅外接口可在距離被測物 1 米處進行測量。

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量,其設計可滿足不同的技術與工作環(huán)境要求。

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO快速測量 在儀器底端接觸工件瞬間,即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可

駿展儀器產品覆蓋長度測量儀器,光學儀器,形狀,工具,材料檢測儀器、涂層和表面處理的測試儀器,已經為許多國內外大中型企業(yè)提供服務,優(yōu)良的品質和完善的服務,贏得了客戶的*,并建立了一個穩(wěn)固的市場地位。公司主要從事物理表面檢測儀器的銷售和服務。擁有長期致力于行業(yè)的高科技人才和高效的管理團隊，人才是公司立足的根本保證，也是公司未來發(fā)展的堅實基礎，是公司更寶貴的財富。