X射線熒光分析法菲希爾x射線測(cè)厚儀

X射線熒光分析法菲希爾x射線測(cè)厚儀

菲希爾x射線測(cè)厚儀能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法，可用來(lái)定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。無(wú)論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。菲希爾測(cè)厚儀

菲希爾x射線測(cè)厚儀EDXRF作為一種常用測(cè)試方法，有著其突出的優(yōu)勢(shì)。它幾乎可以測(cè)量所有工藝相關(guān)元素，并且工作時(shí)無(wú)損且不接觸樣品。測(cè)量時(shí)間一般在數(shù)秒鐘內(nèi)，很少多于一分鐘。通常不需要復(fù)制的樣品制備，即可進(jìn)行快速測(cè)量。利用該方法，可以同時(shí)測(cè)量均質(zhì)材料及鍍層的厚度和化學(xué)成分。不僅如此，EDXRF方法檢測(cè)各種類型樣品里的微量有害物質(zhì)。

此外，X射線熒光分析是一種清潔的測(cè)量方法，測(cè)量過(guò)程不使用任何化學(xué)制品。由于有著合理精巧的設(shè)計(jì)，X射線不會(huì)對(duì)操作人員和環(huán)境構(gòu)成任何威脅：菲希爾X射線儀器是絕對(duì)安全可靠的。菲希爾測(cè)厚儀

X射線熒光分析法原理菲希爾測(cè)厚儀

菲希爾x射線測(cè)厚儀X射線熒光分析基于以下物理現(xiàn)象：樣品材料中的原子由于受到初級(jí)X射線轟擊，從而失去內(nèi)層軌道中的某些電子。失去電子所留下的空穴會(huì)被外層電子來(lái)填補(bǔ)，在填補(bǔ)的過(guò)程中，會(huì)產(chǎn)生每個(gè)元素*的特征X射線熒光。接收器探測(cè)到該熒光射線后，便能提供樣品的材料組成等信息。

DELTASCOPE FMP10或菲希爾FMP30可測(cè)量鐵或鋼上非鐵磁性金屬涂層的厚度，如鉻、銅、鋅、油漆、涂料、搪瓷和塑料涂層。

DELTASCOPE FMP10測(cè)厚儀展示了新菲舍爾FMP系列手持式儀器的測(cè)量技術(shù)。該儀器由堅(jiān)固耐用的材料制成，具有簡(jiǎn)單友好的用戶界面，可以與可更換的探頭一起使用，以滿足不同用戶的所有測(cè)量要求。他們可以計(jì)算和顯示重要的值和數(shù)據(jù)。您的測(cè)量結(jié)果可以和校準(zhǔn)信息一起以應(yīng)用程序的形式存儲(chǔ)在儀器中，保證您每天都能方便、快捷、準(zhǔn)確、可靠地使用。