裝飾性涂層厚度測量Cr/Ni/Cu/ABS菲希爾代理

裝飾性涂層厚度測量Cr/Ni/Cu/ABS菲希爾代理

菲希爾代理Fischer X射線熒光涂層測厚儀Fischer Scope X射線Xulm和Fischer Scope X射線Xulm XYM X射線光譜儀用于小零件涂層厚度的無損測量和成分分析。

菲希爾代理Fischer X射線熒光涂層測厚儀X射線XULM系列簡介

裝飾性涂層厚度測量為了在條件下進行每一次測量，XULM配備了各種準直器和可電動調節(jié)的基本濾光器。

比例接收器可以實現(xiàn)高計數(shù)率，從而可以進行高精度測量。由于采用了費歇爾基本參數(shù)法，涂層系統(tǒng)以及固體和液體樣品都可以在沒有標準件的情況下進行精確的分析和測量。可測量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。

XULM X射線譜儀具有良好的長期穩(wěn)定性，因此無需頻繁校準儀器。

菲希爾測厚儀該儀器特別適合客戶進行質量控制、進貨檢驗和生產過程監(jiān)控。

菲希爾測厚儀典型的應用領域有:

FISCHERSCOPE XUL微小零件、連接器和電線涂層厚度的測量

FISCHERSCOPE XUL印刷電路板上的手動測量

菲希爾xul珠寶行業(yè)涂層厚度測量及成分分析

菲希爾X射線熒光涂層測厚儀的X射線XULM系列設計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM是一系列桌面測量儀器，具有友好的界面和緊湊的結構。根據(jù)使用情況，有以下兩種不同的版本和型號，分別對應不同的示例平臺:

XULM:固定平臺

XULM XYm:手動X/Y平臺

具有強大放大功能的高分辨率彩色攝像機可以定位測量位置。

雖然儀器本身結構緊湊，但XULM光譜儀配備了寬敞的測量室，因此可以測量更大的樣品。

蓋子底部留有間隙，可以方便地測量大尺寸的平板樣品，如大面積的印刷電路板，超過測量室的尺寸。

通過功能強大、界面友好的WinFTM軟件，可以在計算機上方便地完成整個測量過程，包括測量結果的數(shù)據(jù)分析和所有相關信息的顯示。

XULM光譜儀是一種保護措施完善的測量儀器，其型式許可符合德國“Deutsche rntgenverordnung-RV"的要求。