菲希爾X-RAY XUV x射線測厚儀

菲希爾X-RAY XUV x射線測厚儀

菲希爾X-RAY XUV射線熒光測試儀 商品介紹
儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測 器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni 的L輻射。大孔徑準直器的使用大幅提高了信號計數(shù)率，使儀器可以達到極小的重復精度和極低的測量下限。XUV非常適合測量極薄的鍍層和痕量分析。菲希爾測厚儀

菲希爾測厚儀采用不同的準直器和基本濾片組合，能夠保證每 一次的測量都在佳的條件下完成。在測量的同時，可以直觀地查看測量點的影像。菲希爾測厚儀儀器測量空間寬大，樣品放置便捷，配合可編程的XYZ軸工作臺，既適合測量平面、大型板材類樣品，也適合形狀復雜的樣品。并且使得連續(xù)測量分析鍍層 厚度或元素分析也變得直觀而簡單。儀器配有一個激光定位點作為輔助定位裝置，進一步方便了 樣品的快速定位。
基于儀器的通用設計以及真空測量箱所帶來的擴展的 測量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用 于研究和開發(fā)，也非常適合過程控制和實驗室使用。
射線熒光測試儀 商品特點
帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管，可選鎢管和鉬管。高工作條件：
射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器
準直器：4個，可自動切換，從直徑0.1mm到
基本濾片：6個，可自動切換
可編程XYZ工作臺
攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置?？潭染€經(jīng)過校準，顯示實際測量點大小。
可在真空，空氣或者氦氣的環(huán)境下工作
射線熒光測試儀 商品應用
測量輕元素
測量超薄鍍層和痕量分析
常規(guī)金屬分析鑒定
非破壞式寶石分析
太陽能光伏產(chǎn)業(yè)