泰勒霍普森Surtronic S116粗糙度儀信息
更新時間：2026-01-30 點擊次數(shù)：252次
泰勒霍普森Surtronic S116是S100系列中的標準款小型便攜式粗糙度儀，作為Surtronic25的升級替代產(chǎn)品，以小巧機身、精準性能與便捷操作，廣泛適配加工現(xiàn)場與計量室的表面粗糙度檢測需求，覆蓋精密制造多個核心領域。儀器僅手掌大小，外形尺寸150x85x55mm，重量僅650g，便于攜帶至任何測量場景，獨特的探頭支架設計的可確保探頭與被測工件表面穩(wěn)定接觸，大幅提升操作便捷性。
該儀器采用電感式傳感器，搭配可更換金剛石測針（默認尖半徑5μm），探頭下壓力可調至150～300mg，可精準測量Ra、Rz、Rp等多種國際標準粗糙度參數(shù)，測量范圍達200μm，分辨率低至5nm，符合ISO、ASME、JIS等多項國際標準，Ra測量誤差控制在±(2% + 0.004 μm)，確保高精度檢測需求。配備4.3英寸可旋轉觸摸屏，單頁可顯示多至7個參數(shù)，支持一鍵快捷設置與觸覺盲操作，適配視線受阻等復雜測量場景，防滑V型腳架可穩(wěn)定貼合平面、圓柱面等多種工件表面，保障測量精度。
儀器防護等級達IP54，耐沖擊、防塵防油污，適配嚴苛車間環(huán)境，內置大容量鋰電池，一次充電可完成2000次測量
蘇公網(wǎng)安備32021402002647
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