
XDL230型號X射線熒光測厚儀憑借的性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,成為工業(yè)檢測領(lǐng)域的明星產(chǎn)品。該儀器采用X射線熒光技術(shù),能夠快速、準(zhǔn)確地測量金屬鍍層厚度,適用于多種基材和鍍層組合。
XDL230測厚儀的核心優(yōu)勢在于其高精度測量能力。儀器采用的X射線熒光技術(shù),通過激發(fā)樣品表面鍍層產(chǎn)生熒光,分析熒光強(qiáng)度來確定鍍層厚度。這種非破壞性測量方法確保了樣品完整性,同時(shí)提供高的測量精度,滿足工業(yè)領(lǐng)域?qū)|(zhì)量控制的高要求。
儀器設(shè)計(jì)緊湊輕便,操作界面直觀友好,配備高清顯示屏和簡單易用的菜單系統(tǒng),使測量過程高效便捷。內(nèi)置數(shù)據(jù)存儲功能可記錄大量測量數(shù)據(jù),便于后續(xù)分析和報(bào)告生成。
XDL230廣泛應(yīng)用于多個(gè)工業(yè)領(lǐng)域:
電子行業(yè):測量電路板鍍層厚度
汽車制造:檢測零部件鍍層質(zhì)量
珠寶首飾:評估貴金屬鍍層
航空航天:確保關(guān)鍵部件鍍層符合標(biāo)準(zhǔn)
金屬加工:監(jiān)控鍍層工藝質(zhì)量
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