FISCHERSCOPE X-RAY XDL210是德國 Helmut Fischer 公司生產(chǎn)的能量色散型 X 射線熒光 (EDXRF) 鍍層測厚及材料分析儀，專為無損測量鍍層厚度和材料成分分析設(shè)計。作為 XDL 系列的基礎(chǔ)型號，它具有結(jié)構(gòu)簡單、操作便捷、穩(wěn)定性高的特點，特別適合質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL210技術(shù)優(yōu)勢

無損檢測：不損傷被測樣品，特別適合貴重或已安裝部件

高精度：采用 FISCHER 基本參數(shù)法，無需標準片即可測量分析

操作簡便：配備高分辨率彩色攝像機和放大功能，定位精準

穩(wěn)定性好：長期穩(wěn)定性優(yōu)異，減少校準頻率

遠距離測量：DCM 技術(shù)使測量距離可達 80mm，適應(yīng)復(fù)雜結(jié)構(gòu)

應(yīng)用領(lǐng)域

1. 電鍍行業(yè)

大批量生產(chǎn)的電鍍零件 (螺絲、螺栓、螺母等) 質(zhì)量控制 

多層鍍層 (如鋅 / 鎳 / 鉻) 厚度測量和成分分析

2. 電子與 PCB

印刷線路板 (PCB) 鍍層測量 (銅、錫、金等)

電子元件和觸點鍍層檢測

半導(dǎo)體行業(yè)功能性鍍層分析

3. 其他領(lǐng)域

汽車零部件鍍層檢測

衛(wèi)浴、五金產(chǎn)品表面處理質(zhì)量監(jiān)控

電鍍槽液成分濃度分析