菲希爾納米壓痕儀FISCHERSCOPE HM2000特點

菲希爾X射線測厚儀根據(jù)DIN EN ISO 14577-1 Annex A和ASTM E 2546確定材料參數(shù)

菲希爾X射線測厚儀確定粘彈性材料特性的動態(tài)模式(動態(tài)力學(xué)分析)

快速測量:30秒內(nèi)確定零點

即使對于暗表面，也僅需少許的樣品預(yù)處理準備

菲希爾X射線測厚儀適用于測量塊體材料和厚度大于1μm的涂層, 測量載荷范圍0.1 – 2000 mN 

熱穩(wěn)定性和抗振動:可以穩(wěn)定測量數(shù)小時而不受無外界因素影響

菲希爾X射線測厚儀可編程的全自動化樣品臺，自動測量多個測量點

菲希爾X射線測厚儀配有4倍至40倍物鏡的顯微鏡，以精確定位測量點

模塊化的設(shè)計可實現(xiàn)用戶特定配置或設(shè)備的未來升級

壓頭: 維氏壓頭、柏氏壓頭、硬質(zhì)金屬球型壓頭、努氏壓頭或其它定制壓頭

強大的WIN-HCU軟件，便于直觀地操作和測量評估