菲希爾自動(dòng)化測量如何實(shí)現(xiàn)

菲希爾自動(dòng)化測量如何實(shí)現(xiàn)

FISCHERSCOPE X-射線 XDL和XDLM光譜儀與 XUL 系列密切相關(guān)。主要組件（例如探測器，X射線管和濾波器組合）是相同的，但兩者有一個(gè)顯著的區(qū)別：XDL和XDLM設(shè)備是從上到下進(jìn)行測量，這意味著可以方便地分析非平面樣品-復(fù)雜形狀不再是難題！

自上而下的測試方式還有另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)：可以很容易地實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測量。 XDL240和XDLM237配備了可編程的樣品臺，非常適合掃描樣品表面。 因此，您可以檢查較大部件上的鍍層厚度，或自動(dòng)逐個(gè)測量大量的小部件。

與XUL系列一樣，XDLM中的“ M"代表“微聚焦管"。 這意味著這些設(shè)備特別適合分析小樣品。 XDLM的測量點(diǎn)直徑僅為0.1毫米，非常適合電子行業(yè)。